Arşiv logosu
  • Türkçe
  • English
  • Giriş
    Yeni kullanıcı mısınız? Kayıt için tıklayın. Şifrenizi mi unuttunuz?
Arşiv logosu
  • Koleksiyonlar
  • Sistem İçeriği
  • Analiz
  • Talep/Soru
  • Türkçe
  • English
  • Giriş
    Yeni kullanıcı mısınız? Kayıt için tıklayın. Şifrenizi mi unuttunuz?
  1. Ana Sayfa
  2. Yazara Göre Listele

Yazar "Harfouche, M." seçeneğine göre listele

Listeleniyor 1 - 1 / 1
Sayfa Başına Sonuç
Sıralama seçenekleri
  • [ X ]
    Öğe
    Exploring the structural and electronic properties of CeO2 thin films: role of thickness, temperature, and oxygen vacancies
    (National Institute of Optoelectronics, 2025) Günaydın, Selen; Cengız, Erhan; Kanmaz, İmran; Apaydın, Gökhan; Miyazaki, Hidetoshi; Harfouche, M.; Özkendir, Osman Murat
    Systematic investigation of the temperature-dependent local arrangements in CeO2 thin films and their direct impact on electronic properties is presented. Results revealed that thicker films promote oxygen vacancy formation, reducing Ce4+ to Ce3+ and modifying the local coordination. Furthermore, temperature-dependent EXAFS analysis uncovers a local structural rearrangement transition above 400 K, driven by thermal activation of oxygen vacancies. This rearrangement, occurring within a globally stable cubic framework, directly alters the hybridization between Ce 4f/5d and O 2p orbitals. Density Functional Theory (DFT) calculations corroborate the experimental findings, revealing an indirect bandgap of 1.60 eV as a result of orbital hybridization. © 2025, National Institute of Optoelectronics. All rights reserved.

| Alanya Alaaddin Keykubat Üniversitesi | Kütüphane | Açık Bilim Politikası | Açık Erişim Politikası | Rehber | OAI-PMH |

Bu site Creative Commons Alıntı-Gayri Ticari-Türetilemez 4.0 Uluslararası Lisansı ile korunmaktadır.


Alanya Alaaddin Keykubat Üniversitesi, Alanya, Antalya, TÜRKİYE
İçerikte herhangi bir hata görürseniz lütfen bize bildirin

Powered by İdeal DSpace

DSpace yazılımı telif hakkı © 2002-2026 LYRASIS

  • Çerez Ayarları
  • Gizlilik Politikası
  • Son Kullanıcı Sözleşmesi
  • Geri Bildirim