Thickness-Dependent Structural and Electronic Properties of HfO2 Thin Films Probed by XRD and XAFS için istatistikler
Toplam ziyaret
| views | |
|---|---|
| Thickness-Dependent Structural and Electronic Properties of HfO2 Thin Films Probed by XRD and XAFS | 1 |
Aylık toplam ziyaret
| views | |
|---|---|
| Ocak 2026 | 0 |
| Şubat 2026 | 0 |
| Mart 2026 | 0 |
| Nisan 2026 | 0 |
| Mayıs 2026 | 1 |
| Haziran 2026 | 0 |
| Temmuz 2026 | 0 |
