Thickness-Dependent Structural and Electronic Properties of HfO2 Thin Films Probed by XRD and XAFS için istatistikler
Toplam ziyaret
| views | |
|---|---|
| Thickness-Dependent Structural and Electronic Properties of HfO2 Thin Films Probed by XRD and XAFS | 0 |
Aylık toplam ziyaret
| views | |
|---|---|
| Temmuz 2025 | 0 |
| Ağustos 2025 | 0 |
| Eylül 2025 | 0 |
| Ekim 2025 | 0 |
| Kasım 2025 | 0 |
| Aralık 2025 | 0 |
| Ocak 2026 | 0 |
