Cengiz, Erhan2021-02-192021-02-1920192587-26802587-246Xhttps://doi.org/10.17776/csj.499424https://app.trdizin.gov.tr/makale/TXpFNU56a3hNUT09https://hdl.handle.net/20.500.12868/1149The Li (i = l, ?, and ?)–to-L? X-ray intensity ratios of Tl in some thallium compounds were measured by EDXRF spectrometer. These compounds were excited by 59.5 keV gamma-rays from a 241Am annular radioactive source. L X-rays emitted by the compounds were counted using an Ultra-LEGe detector with a resolution of 150 eV at 5.9 keV. Li –to-L? X-ray intensity ratios of Tl in these compounds are compared with that of the pure Tl calculated theoretically. While the values of Ll/L? and L?/L? intensity ratios are compatible with the theoretically calculated value, the values of L?/L? intensity ratios have differences.Bazı talyum bileşiklerindeki talyumun Li/L? (i = l, ? and ?) X-ışını şiddet oranları EDXRF spektrometresi yardımıyla ölçüldü. Bu bileşikler 241Am halka radyoaktif kaynağından yayımlanan 59.5 keV enerjili gama ışınları ile uyarıldı. Bileşiklerden yayımlanan L X-ışınları rezülasyonu 5.9 keV’ta 150 eV olan Ultra-LEGe dedektör ile sayıldı. Bu bileşiklerdeki talyumun Li/L? X-ışını şiddet oranları saf talyum için teorik olarak hesaplanan değer ile karşılaştırıldı. Ll/L? ve L?/L? değerleri teorik olarak hesaplanan değer ile uyumlu iken, L?/L? X-ışını şiddet oranı değerleri farklılıklara sahiptir.eninfo:eu-repo/semantics/openAccessBiyoloji Çeşitliliğinin KorunmasıBiyolojiKimya, AnalitikKimya, UygulamalıKimya, TıbbiKimya, OrganikFizikokimyaFizik, Atomik ve Moleküler KimyaFizik, Katı HalFizik, Akışkanlar ve PlazmaFizik, MatematikFizik, NükleerFizik, Partiküller ve AlanlarBilgisayar Bilimleri, Bilgi SistemleriMühendislik, Kimyaİnşaat MühendisliğiÇevre MühendisliğiMühendislik, JeolojiMühendislik, MakineGıda Bilimi ve TeknolojisiArticle10.17776/csj.499424401117124