Investigation on Li (i = l, ?, and ?)–to-L? X-ray Intensity Ratios of Tl in Thallium Compounds

Abstract

The Li (i = l, ?, and ?)–to-L? X-ray intensity ratios of Tl in some thallium compounds were measured by EDXRF spectrometer. These compounds were excited by 59.5 keV gamma-rays from a 241Am annular radioactive source. L X-rays emitted by the compounds were counted using an Ultra-LEGe detector with a resolution of 150 eV at 5.9 keV. Li –to-L? X-ray intensity ratios of Tl in these compounds are compared with that of the pure Tl calculated theoretically. While the values of Ll/L? and L?/L? intensity ratios are compatible with the theoretically calculated value, the values of L?/L? intensity ratios have differences.

Bazı talyum bileşiklerindeki talyumun Li/L? (i = l, ? and ?) X-ışını şiddet oranları EDXRF spektrometresi yardımıyla ölçüldü. Bu bileşikler 241Am halka radyoaktif kaynağından yayımlanan 59.5 keV enerjili gama ışınları ile uyarıldı. Bileşiklerden yayımlanan L X-ışınları rezülasyonu 5.9 keV’ta 150 eV olan Ultra-LEGe dedektör ile sayıldı. Bu bileşiklerdeki talyumun Li/L? X-ışını şiddet oranları saf talyum için teorik olarak hesaplanan değer ile karşılaştırıldı. Ll/L? ve L?/L? değerleri teorik olarak hesaplanan değer ile uyumlu iken, L?/L? X-ışını şiddet oranı değerleri farklılıklara sahiptir.